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更新时间：2025-06-13 
浏览次数：41X-123 是一款集成于小巧便携盒体中的完整 X 射线检测系统，可轻松握于手中。
X-123 凝聚了 Amptek 多年来在 X 射线探测器领域的研发成果。我们始终秉持 “打造小型化、低功耗、高性能且操作简便的仪器" 理念，而 X-123 正是这一理念的 —— 它在单一封装中集成了 XR-100CR X 射线探测器及其电荷灵敏前置放大器、配备脉冲成形器 / 多道分析器（MCA）和接口的 DP5 数字脉冲处理器，以及 PC5 电源。用户仅需提供 + 5 V 直流输入，并通过 USB、以太网或 RS-232 与计算机连接即可使用。
产品特点
紧凑集成系统
操作简便
体积小巧（2.7×3.9×1 英寸，7×10×2.5 厘米）
低功耗（2.5 瓦）
重量轻盈（6.3 盎司，180 克）
支持 USB 和 RS-232 通信
应用领域
X 射线荧光分析（XRF）
符合 RoHS/WEEE 标准的检测设备
过程控制
X 射线分拣机
艺术与考古领域
探测器选项
用于 X 射线检测的快速硅漂移探测器（SDD）
面积：25、70 或 160 mm²
厚度：500 微米或 1000 微米
多层准直器
典型性能分辨率：在 5.9 keV 能量下，半高宽（FWHM）为 122-129 eV
最佳能量范围：1 keV 至 40 keV
最大计数率：>1×10⁶次 / 秒
用于 X 射线检测的硅 PIN 探测器
面积：6、13 或 25 mm²
厚度：500 微米
多层准直器
典型性能分辨率：在 5.9 keV 能量下，半高宽（FWHM）为 139-260 eV
最佳能量范围：1 keV 至 40 keV
最大计数率：高达 2×10⁵次 / 秒
用于 X 射线和伽马射线检测的碲化镉（CdTe）探测器
面积：25 mm²
厚度：1000 微米
典型性能分辨率：在钴 - 57 源下典型值 < 1.5 keV
最佳能量范围：5 至 100 keV
最大计数率：高达 2×10⁵次 / 秒
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